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匠心艺术之作，70mm2 FAST SDD。Amptek最新研发了一款TO-8封装的70mm2 FAST SDD探测器。它的封装和Amptek其他所有探测器封装一样。这样使得70mm2 FAST SDD成为非常方便的替代品。在同样性能下，计数率是25mm2SDD探测器的3倍。
特性
70mm2有效面积准直到50mm2
123ev FWHM @5.9keV
计数率>2,000,000cps
高峰背比-26000:1
前置放大器上升时间<60ns
窗口：Be(0.5mil) 12.5um或C2(Si3N4)
抗辐射
探头晶体厚度500um
TO-8封装
制冷ΔT >85K
内置多层准直器
应用
l 超快台式和手持XRF光谱仪
l SEM中EDS系统的样品扫描或测绘样品
l 在线过程控制
l X射线分拣机
l OEM
FASTSDD-70规格参数
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通用 |
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探头类型 |
硅漂移探头（SDD） |
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探头大小 |
70mm2准直到50mm2 |
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硅晶体厚度 |
500um |
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5.9keV处55Fe能量分辨率 |
峰化时间4us时，分辨率为123-135eV |
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峰背比 |
>20000:1（5.9keV与1keV计数比） |
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探头窗口 |
Be:0.5mil(12.5um)或C2（Si3N4） |
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准直器 |
内部多层准直器 |
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电荷灵敏前置放大器 |
CMOS |
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增益稳定性 |
<20ppm/℃ |
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外壳尺寸 XR-100FastSDD-70 |
3.00 x 1.75 x 1.13 in (7.6 x 4.4 x 2.9 cm) |
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重量 XR-100FastSDD-70 |
4.4盎司（125g） |
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总功率 XR-100FastSDD-70 |
<2W |
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质保期 |
1年 |
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使用寿命 |
取决于实际使用情况，一般5-10年 |
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仓储和物流 |
长期存放：干燥环境下10年以上 仓储和物流：-40℃到+85℃，10%到90%湿度，无凝结 |
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工作条件 |
-35℃到+80℃ |
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TUV 认证 认证编号：CU 72101153 01 检测于：UL61010-1:2009 R10.08 CAN/CSA-C22.2 61010-1-04+GI1 |
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输入 |
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前放电源 XR-100FastSDD-70 OEM 配置 |
±8V@15mA，峰值噪声不超过50mV。
PA210/PA230或X-123：±5V |
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探头电源 XR-100FastSDD-70 |
-100到-180V@25uA，非常稳定， 变化<0.1% |
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制冷电源 电流 电压 |
最大450mA 最大3.5V，峰值噪声<100mV |
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注： XR-100FastSDD-70包含它自身的温度控制器 |
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输出 |
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前放 灵敏度
极性 输出上升时间 反馈 |
典型的3.6mV/keV（不同的探头灵敏度不同） 正输出信号（最大1KΩ负载） <60ns 复位型 |
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温度监控灵敏度 |
根据配置不同而变化 当使用PX5，DP5，或X-123时，直接通过软件读取开尔文温度 |
FastSDD-70 探头可用于Amptek所有的配置中
