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AMPTEK X射线探测器FASTSDD大面积探测器 X光探测器

 
品牌: AMPTEK
规格: 70mm2
单价: 面议
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供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
所在地: 进口
有效期至: 2022-08-30
最后更新: 2022-01-12 14:21
浏览次数: 53
 
公司基本资料信息
详细说明

匠心艺术之作70mm2 FAST SDD。Amptek最新研发了一款TO-8封装的70mm2 FAST SDD探测器。它的封装和Amptek其他所有探测器封装一样。这样使得70mm2 FAST SDD成为非常方便的替代品。在同样性能下,计数率是25mm2SDD探测器的3倍。

特性

70mm2有效面积准直到50mm2

123ev FWHM @5.9keV

计数率>2,000,000cps

高峰背比-26000:1

前置放大器上升时间<60ns

窗口:Be(0.5mil) 12.5um或C2(Si3N4)

抗辐射

探头晶体厚度500um

TO-8封装

制冷ΔT >85K

内置多层准直器

射线探测器

应用

l  超快台式和手持XRF光谱仪

l  SEM中EDS系统的样品扫描或测绘样品

l  在线过程控制

l  X射线分拣机

l  OEM


70MM2 FWHM 谱图



FASTSDD-70规格参数


通用

探头类型

硅漂移探头(SDD)

探头大小

70mm2准直到50mm2

硅晶体厚度

500um

5.9keV处55Fe能量分辨率

峰化时间4us时,分辨率为123-135eV

峰背比

>20000:1(5.9keV与1keV计数比)

探头窗口

Be:0.5mil(12.5um)或C2(Si3N4)

准直器

内部多层准直器

电荷灵敏前置放大器

CMOS

增益稳定性

<20ppm/℃

外壳尺寸

XR-100FastSDD-70

3.00 x 1.75 x 1.13 in (7.6 x 4.4 x   2.9 cm)

重量

XR-100FastSDD-70

4.4盎司(125g)

总功率

XR-100FastSDD-70

<2W

质保期

1年

使用寿命

取决于实际使用情况,一般5-10年

仓储和物流

长期存放:干燥环境下10年以上

仓储和物流:-40℃到+85℃,10%到90%湿度,无凝结

工作条件

-35℃到+80℃


TUV 认证

认证编号:CU 72101153 01

检测于:UL61010-1:2009 R10.08

CAN/CSA-C22.2 61010-1-04+GI1

输入

前放电源

XR-100FastSDD-70

OEM 配置

±8V@15mA,峰值噪声不超过50mV。

PA210/PA230或X-123:±5V

探头电源

XR-100FastSDD-70

-100到-180V@25uA,非常稳定,

变化<0.1%

制冷电源

电流

电压

最大450mA

最大3.5V,峰值噪声<100mV

注: XR-100FastSDD-70包含它自身的温度控制器

输出

前放

灵敏度

极性

输出上升时间

反馈

典型的3.6mV/keV(不同的探头灵敏度不同)

正输出信号(最大1KΩ负载)

<60ns

复位型

温度监控灵敏度

根据配置不同而变化

当使用PX5,DP5,或X-123时,直接通过软件读取开尔文温度



FastSDD-70 探头可用于Amptek所有的配置中

FastSDD-70 探头配置

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